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X射(she)(she)(she)(she)線(xian)(xian)衍(yan)射(she)(she)(she)(she)技術在材(cai)(cai)料(liao)科學(xue)領域的(de)(de)(de)應用(yong)非常廣泛，比如在金(jin)屬材(cai)(cai)料(liao)、合金(jin)材(cai)(cai)料(liao)、無(wu)機晶(jing)(jing)體(ti)等方面(mian)都有(you)著重要的(de)(de)(de)應用(yong)。通過X射(she)(she)(she)(she)線(xian)(xian)衍(yan)射(she)(she)(she)(she)儀(yi)XRD可(ke)(ke)(ke)以(yi)揭示(shi)材(cai)(cai)料(liao)中(zhong)的(de)(de)(de)微觀晶(jing)(jing)體(ti)結(jie)構，幫助科學(xue)家們了解材(cai)(cai)料(liao)的(de)(de)(de)性(xing)(xing)質和特點。此(ci)外，X射(she)(she)(she)(she)線(xian)(xian)衍(yan)射(she)(she)(she)(she)技術還可(ke)(ke)(ke)以(yi)在質控過程中(zhong)起(qi)到關鍵作用(yong)。通過對材(cai)(cai)料(liao)的(de)(de)(de)晶(jing)(jing)體(ti)結(jie)構進行分析，可(ke)(ke)(ke)以(yi)及(ji)時發現材(cai)(cai)料(liao)中(zhong)的(de)(de)(de)缺(que)陷和不均勻性(xing)(xing)，避免材(cai)(cai)料(liao)在生產過程中(zhong)出(chu)現問題。X射(she)(she)(she)(she)線(xian)(xian)衍(yan)射(she)(she)(she)(she)儀(yi)XRD(XRD)是一種通過將X射(she)(she)(she)(she)線(xian)(xian)射(she)(she)(she)(she)向樣品(pin)并測量被(bei)樣品(pin)散射(she)(she)(she)(she)的(de)(de)(de)X射(she)(she)(she)(she)線(xian)(xian)來(lai)分析材(cai)(cai)料(liao)晶(jing)(jing)體(ti)結(jie)構的(de)(de)(de)儀(yi)器(qi)。其(qi)原理可(ke)(ke)(ke)以(yi)簡述為：X射(she)(she)(she)(she)線(xian)(xian)入射(she)(she)(she)(she)到物質晶(jing)(jing)體(ti)上...

高(gao)(gao)(gao)溫(wen)(wen)環境(jing)XRD是一種(zhong)用于(yu)分(fen)析材(cai)料結構(gou)(gou)和性質(zhi)的(de)(de)工具(ju)，在(zai)高(gao)(gao)(gao)溫(wen)(wen)條件下(xia)(xia)進行(xing)X射線衍(yan)(yan)(yan)射的(de)(de)技術。有兩種(zhong)常(chang)(chang)見的(de)(de)實驗方法：1.粉末(mo)(mo)衍(yan)(yan)(yan)射：在(zai)高(gao)(gao)(gao)溫(wen)(wen)環境(jing)下(xia)(xia)進行(xing)粉末(mo)(mo)衍(yan)(yan)(yan)射實驗時，樣(yang)品通常(chang)(chang)是以(yi)粉末(mo)(mo)的(de)(de)形(xing)式存在(zai)的(de)(de)。X射線經過樣(yang)品后會被衍(yan)(yan)(yan)射成(cheng)不(bu)同(tong)(tong)的(de)(de)角度，這些衍(yan)(yan)(yan)射峰的(de)(de)位置和強度可以(yi)提供關于(yu)材(cai)料的(de)(de)結構(gou)(gou)和晶體學信息(xi)。在(zai)高(gao)(gao)(gao)溫(wen)(wen)環境(jing)下(xia)(xia)進行(xing)XRD實驗時，通常(chang)(chang)需要使用專門(men)設計的(de)(de)高(gao)(gao)(gao)溫(wen)(wen)爐來加熱樣(yang)品，并確保溫(wen)(wen)度穩定。通過測量(liang)樣(yang)品在(zai)不(bu)同(tong)(tong)溫(wen)(wen)度下(xia)(xia)的(de)(de)XRD圖譜(pu)，可以(yi)研究材(cai)料在(zai)高(gao)(gao)(gao)溫(wen)(wen)下(xia)(xia)的(de)(de)結構(gou)(gou)變化和相變過程。2.單晶衍(yan)(yan)(yan)射：在(zai)高(gao)(gao)(gao)溫(wen)(wen)環境(jing)下(xia)(xia)進行(xing)單晶衍(yan)(yan)(yan)...

低(di)溫(wen)環(huan)境(jing)XRD的基本原理是利用X射(she)(she)線射(she)(she)向樣(yang)(yang)(yang)品(pin)(pin)(pin)后，被(bei)樣(yang)(yang)(yang)品(pin)(pin)(pin)中(zhong)的原子或分(fen)子散射(she)(she)，產生衍(yan)射(she)(she)圖樣(yang)(yang)(yang)。根(gen)據(ju)衍(yan)射(she)(she)圖樣(yang)(yang)(yang)的特(te)征，可以(yi)確定材料(liao)(liao)的晶體學結構和晶格(ge)參數。X射(she)(she)線衍(yan)射(she)(she)采用的是布拉(la)格(ge)法則，即(ji)初級衍(yan)射(she)(she)片(pian)(或者干(gan)涉片(pian))的各(ge)個發(fa)射(she)(she)中(zhong)心(或者反(fan)射(she)(she)中(zhong)心)等離自己n倍的距離時，各(ge)個衍(yan)射(she)(she)片(pian)剛好(hao)疊合起(qi)來形成一組尖(jian)峰。通(tong)過(guo)測(ce)量這些尖(jian)峰的位置，可以(yi)推斷出樣(yang)(yang)(yang)品(pin)(pin)(pin)的晶格(ge)參數。低(di)溫(wen)環(huan)境(jing)XRD的應(ying)用非(fei)常廣泛，包(bao)括(kuo)但不限于(yu)：1.材料(liao)(liao)研究(jiu)：研究(jiu)材料(liao)(liao)的晶體結構、晶體生長和相變行為等。通(tong)過(guo)對材料(liao)(liao)在不同溫(wen)度下的X射(she)(she)線衍(yan)射(she)(she)圖樣(yang)(yang)(yang)的分(fen)...

煤(mei)(mei)(mei)巖(yan)分(fen)(fen)析(xi)(xi)系統(tong)的(de)(de)(de)(de)工作(zuo)原理主(zhu)要是通過對(dui)煤(mei)(mei)(mei)巖(yan)樣(yang)品(pin)的(de)(de)(de)(de)物(wu)(wu)理、化學、礦物(wu)(wu)組分(fen)(fen)等(deng)性(xing)質(zhi)(zhi)進(jin)行(xing)(xing)(xing)測(ce)試(shi)和分(fen)(fen)析(xi)(xi)，結合各個模塊(kuai)的(de)(de)(de)(de)結果，對(dui)煤(mei)(mei)(mei)巖(yan)的(de)(de)(de)(de)性(xing)質(zhi)(zhi)進(jin)行(xing)(xing)(xing)綜合評(ping)估和判別。根據(ju)煤(mei)(mei)(mei)巖(yan)的(de)(de)(de)(de)性(xing)質(zhi)(zhi)和成分(fen)(fen)，可以(yi)提供(gong)煤(mei)(mei)(mei)巖(yan)的(de)(de)(de)(de)質(zhi)(zhi)量等(deng)級(ji)、煤(mei)(mei)(mei)尺度(du)、采礦難度(du)等(deng)信息，為煤(mei)(mei)(mei)礦生產和利(li)用提供(gong)依據(ju)。通過對(dui)煤(mei)(mei)(mei)巖(yan)樣(yang)品(pin)的(de)(de)(de)(de)物(wu)(wu)理、化學和礦物(wu)(wu)組分(fen)(fen)等(deng)性(xing)質(zhi)(zhi)進(jin)行(xing)(xing)(xing)測(ce)試(shi)和分(fen)(fen)析(xi)(xi)，能夠準確(que)地(di)評(ping)估煤(mei)(mei)(mei)巖(yan)的(de)(de)(de)(de)質(zhi)(zhi)量和成分(fen)(fen)。這(zhe)對(dui)于煤(mei)(mei)(mei)礦生產和利(li)用來說具有重要的(de)(de)(de)(de)意(yi)義。煤(mei)(mei)(mei)巖(yan)分(fen)(fen)析(xi)(xi)系統(tong)的(de)(de)(de)(de)應用主(zhu)要包括(kuo)以(yi)下幾個方面(mian)：1.煤(mei)(mei)(mei)質(zhi)(zhi)分(fen)(fen)析(xi)(xi)：可以(yi)快速(su)準確(que)地(di)對(dui)煤(mei)(mei)(mei)樣(yang)進(jin)行(xing)(xing)(xing)成分(fen)(fen)分(fen)(fen)析(xi)(xi)，包括(kuo)煤(mei)(mei)(mei)炭中的(de)(de)(de)(de)主(zhu)要元素以(yi)及各種...

煤巖(yan)(yan)分(fen)(fen)(fen)(fen)析(xi)(xi)(xi)(xi)(xi)系統(tong)是用于煤巖(yan)(yan)樣(yang)品(pin)分(fen)(fen)(fen)(fen)析(xi)(xi)(xi)(xi)(xi)和(he)(he)測試的(de)儀器設備，可以對煤巖(yan)(yan)樣(yang)品(pin)的(de)物理(li)(li)(li)(li)、化學、礦物組成(cheng)等(deng)進行定(ding)性(xing)(xing)和(he)(he)定(ding)量分(fen)(fen)(fen)(fen)析(xi)(xi)(xi)(xi)(xi)，提(ti)供煤巖(yan)(yan)性(xing)(xing)質(zhi)(zhi)和(he)(he)成(cheng)分(fen)(fen)(fen)(fen)的(de)評估和(he)(he)判別。主要由樣(yang)品(pin)預(yu)處理(li)(li)(li)(li)部分(fen)(fen)(fen)(fen)和(he)(he)分(fen)(fen)(fen)(fen)析(xi)(xi)(xi)(xi)(xi)測試部分(fen)(fen)(fen)(fen)組成(cheng)。樣(yang)品(pin)預(yu)處理(li)(li)(li)(li)部分(fen)(fen)(fen)(fen)包括(kuo)樣(yang)品(pin)的(de)采集(ji)、研磨、篩分(fen)(fen)(fen)(fen)、制備等(deng)工(gong)序。分(fen)(fen)(fen)(fen)析(xi)(xi)(xi)(xi)(xi)測試部分(fen)(fen)(fen)(fen)包括(kuo)物理(li)(li)(li)(li)分(fen)(fen)(fen)(fen)析(xi)(xi)(xi)(xi)(xi)模(mo)塊、化學分(fen)(fen)(fen)(fen)析(xi)(xi)(xi)(xi)(xi)模(mo)塊和(he)(he)礦物組分(fen)(fen)(fen)(fen)分(fen)(fen)(fen)(fen)析(xi)(xi)(xi)(xi)(xi)模(mo)塊等(deng)。物理(li)(li)(li)(li)分(fen)(fen)(fen)(fen)析(xi)(xi)(xi)(xi)(xi)模(mo)塊主要是通(tong)過對煤巖(yan)(yan)樣(yang)品(pin)的(de)物理(li)(li)(li)(li)性(xing)(xing)質(zhi)(zhi)進行測試和(he)(he)分(fen)(fen)(fen)(fen)析(xi)(xi)(xi)(xi)(xi)，包括(kuo)密度(du)(du)、孔(kong)隙度(du)(du)、滲透性(xing)(xing)等(deng)。其(qi)中，密度(du)(du)的(de)測試可以通(tong)過氣體(ti)置換法、水置換法等(deng)進行。孔(kong)隙度(du)(du)的(de)測試可以通(tong)過質(zhi)(zhi)量差測定(ding)法、浸水法等(deng)進行...

臺式掃描電(dian)(dian)(dian)鏡(ScanningElectronMicroscope，SEM)是(shi)利(li)用(yong)電(dian)(dian)(dian)子(zi)(zi)束和樣(yang)品(pin)(pin)之間(jian)的(de)(de)相互作用(yong)來(lai)(lai)獲(huo)取樣(yang)品(pin)(pin)的(de)(de)形貌(mao)和組(zu)成(cheng)信(xin)息(xi)(xi)。電(dian)(dian)(dian)子(zi)(zi)束由電(dian)(dian)(dian)子(zi)(zi)槍產生，并(bing)經過(guo)一(yi)系列的(de)(de)準直系統和聚焦系統來(lai)(lai)聚焦至細(xi)小的(de)(de)電(dian)(dian)(dian)子(zi)(zi)束。這(zhe)細(xi)小的(de)(de)電(dian)(dian)(dian)子(zi)(zi)束在掃描線圈的(de)(de)控制下在樣(yang)品(pin)(pin)表面(mian)上(shang)進行細(xi)密的(de)(de)掃描，從而得(de)到(dao)樣(yang)品(pin)(pin)表面(mian)的(de)(de)形貌(mao)信(xin)息(xi)(xi)。可(ke)以通過(guo)調整(zheng)電(dian)(dian)(dian)子(zi)(zi)束的(de)(de)參數和探(tan)測器(qi)的(de)(de)選(xuan)擇來(lai)(lai)優(you)化樣(yang)品(pin)(pin)的(de)(de)成(cheng)像效果。通過(guo)改變(bian)電(dian)(dian)(dian)子(zi)(zi)束的(de)(de)加速(su)電(dian)(dian)(dian)壓(ya)和電(dian)(dian)(dian)流，可(ke)以調整(zheng)成(cheng)像的(de)(de)深度和解析度。通過(guo)選(xuan)擇不同(tong)的(de)(de)探(tan)測器(qi)，可(ke)以獲(huo)得(de)不同(tong)類型的(de)(de)信(xin)號，從而實(shi)現對(dui)樣(yang)品(pin)(pin)的(de)(de)...

臺式掃(sao)描(miao)(miao)電(dian)(dian)鏡的(de)(de)測(ce)量過(guo)程分為兩個基本(ben)步(bu)驟：掃(sao)描(miao)(miao)和(he)探測(ce)。在(zai)掃(sao)描(miao)(miao)過(guo)程中，電(dian)(dian)子束(shu)按(an)照一定的(de)(de)模式在(zai)樣品表(biao)面(mian)上進行掃(sao)描(miao)(miao)，掃(sao)描(miao)(miao)線圈在(zai)水平(ping)和(he)垂直方向上控制電(dian)(dian)子束(shu)的(de)(de)位置。在(zai)探測(ce)過(guo)程中，樣品表(biao)面(mian)與電(dian)(dian)子束(shu)相(xiang)互作用，產(chan)生(sheng)多種(zhong)種(zhong)類的(de)(de)信(xin)(xin)號。常見的(de)(de)信(xin)(xin)號包(bao)括：次(ci)級電(dian)(dian)子(SecondaryElectrons,SE)、散射(she)電(dian)(dian)子(BackscatteredElectrons,BSE)、熒光(guang)X射(she)線(X-RayFluorescence,XRF)和(he)樣品電(dian)(dian)流等(deng)。次(ci)級電(dian)(dian)子是由電(dian)(dian)子束(shu)與樣品表(biao)面(mian)原子的(de)(de)相(xiang)互作用所產(chan)生(sheng)的(de)(de)。這些電(dian)(dian)子...